在新产品导入阶段，我们针对不同种类/型号的晶圆，依据产品规格及客户需求设计测试方案与探针卡， 选择最优测试平台搭建实验验证软硬件环境，完成测试方法的验证、确认与定型。
进入量产阶段后，基于前期已锁定的测试方案，采用高可靠性探针卡（Probe Card）、 精密探针台（Prober）及先进测试机（ATE）对每颗晶粒进行全面电性测试， 实现良品与不良品的精准分选与等级分类，确保出厂晶圆的一致性与可靠性。
